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ECM-100離子遷移測試裝置（CAF）是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。

離子遷移實(shí)驗裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）絕緣電阻值測試，在高溫高濕條件下，對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評估。

J-RAS離子遷移試驗裝置 絕緣可靠性評估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

日本J-RAS離子遷移試驗裝置CAF測試是一種信賴(lài)性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(cháng)時(shí)間的測試（1 ～1000 小時(shí)）并觀(guān)察線(xiàn)路是否有瞬間短路的現象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是 OPEN/SHORT 試驗，我們將其統稱(chēng)為絕緣劣化試驗。

J-RAS代理離子遷移試驗裝置 CAF測試，J-RAS離子遷移試驗裝置（CAF）ECM-100是可以單獨試驗的ALL-IN-ONE檢測系統，并且重要的試驗數據被保存到CF存儲卡。作為系統構成我們準備了40CH/100CH型，可以根據您的預算、設置空間來(lái)進(jìn)行選擇。